供应奥林巴斯45MG超声波钢板测厚仪 超声波金属测厚仪
产品详情 品牌：奥林巴斯 型号：45MG 工作原理：超声波测厚仪 用途：涂层测厚仪 测量范围：-mm 显示方式：- 电源电压：-V 加工定制：加工定制 外形尺寸：-mm 重量：-kg 标准：详见介绍 45MG仪器是一款带有各种标准测量功能和软件选项的高级超声测厚仪。这款独具特色的仪器与所有Olympus双晶和单晶测厚探
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- 品牌：奥林巴斯
- 型号：45MG
- 工作原理：超声波测厚仪
- 用途：涂层测厚仪
- 测量范围：-mm
- 显示方式：-
- 电源电压：-V
- 加工定制：加工定制
- 外形尺寸：-mm
- 重量：-kg
- 标准：详见介绍
45MG仪器是一款带有各种标准测量功能和软件选项的高级超声测厚仪。这款独具特色的仪器与所有Olympus双晶和单晶测厚探头兼容，是一款集所有解决方案于一机的创新型仪器，可用于几乎所有测厚应用。
供应奥林巴斯45MG超声波钢板测厚仪 超声波金属测厚仪 技术参数：
| 测量 | |
| 双晶探头测量模式 | 从激励脉冲后的精确延迟到第一个回波之间的时间间隔。 |
| 自动回波到回波（可选） | 在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。 |
| 穿透涂层测量 （可选） | 利用单个底面回波，测量金属的实际厚度和涂层厚度（使用D7906-SM和D7906探头） |
| 单晶探头测量模式（可选） | 模式1：激励脉冲与第一个底面回波之间的时间间隔。 模式2：延迟块回波与第一个底面回波之间的时间间隔（使用延迟块或水浸式探头） 模式3：在激励脉冲之后，位于第一个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔（使用延迟块探头或水浸式探头）。 |
| 厚度范围 | 0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）视材料、探头、表面条件、温度和所选配置而定（要测量最全的范围需要使用单晶选项） |
| 材料声速范围 | 0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs） |
| 分辨率（可选择） | 低分辨率：0.1毫米（0.01英寸） 标准分辨率：0.01毫米（0.001英寸） 单晶选项：0.001毫米（0.0001英寸） |
| 探头频率范围 | 标准：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（单晶选项）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB） |
| 一般规格 | |
| 操作温度范围 | -10 °C～50 °C（14 °F～122 °F） |
| 键盘 | 密封、以色彩区分功能的键盘，带有触感及声音反馈 |
| 机壳 | 防撞击、防水、装有密封垫的机壳，机壳上的接口密封。设计符合IP67标准。 |
| 外型尺寸（宽 x 高 x 厚） | 总体尺寸：91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm |
| 重量 | 430.9克 |
| 电源 | 3节AA电池/USB电源供应 |
| 电池工作时间 | 3节AA碱性电池：20到21小时 3节AA镍氢电池：22到23小时 3节AA锂离子电池：35到36小时 |
| 标准 | 设计符合EN15317标准 |
| 显示 | |
| 彩色透反QVGA显示 | 液晶显示，显示屏尺寸：54.61毫米 x 41.15毫米 |
| 检波 | 全波、RF波、正半波、负半波（波形选项） |
| 输入/输出 | |
| USB | 2.0从接口 |
| 存储卡 | 最大容量：2 GB可插拔MicroSD存储卡 |
| 内置数据记录器（可选） | |
| 数据记录器 | 45MG通过USB或MicroSD卡识别、存储、调用、清除及传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。 |
| 容量 | 475000个厚度测量读数，或20000个带厚度值的波形 |
| 文件名称和ID编码 | 32位字符的文件名，20位字符的字母数字位码 |
| 文件结构 | 6个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构 |
| 报告 | 机载报告总结了数据统计和最小值/最大值 |
- 45MG数字式超声测厚仪
- AA碱性电池
- 2阶试块和耦合剂
- USB线缆
- 用户手册，存于CD盘上
- 测量功能：最小值/最大值模式、两个报警模式、差值模式、B扫描、缩减率、可编程的锁定功能
- 45MG-SE (U8147022)：单晶选项，使用频率范围为2.25 MHz～30 MHz的单晶探头
- 45MG-HP (U8147023)：单晶高穿透选项，使用频率范围为0.5 MHz～30 MHz的单晶探头
- 45MG-EETC (U8147021)：回波到回波和穿透涂层
- 45MG-WF (U8147019)：波形选项
- 45MG-DL (U8147020)：内置数据记录器，包含GageView接口程序
- MICROSSD-ADP-2GB (U8779307)： 2 GB外置MicroSD存储卡
- 45MG-RPC (U8779676)： 带支架的橡胶保护套
供应奥林巴斯45MG超声波钢板测厚仪 超声波金属测厚仪
抵御恶劣环境的能力
坚固耐用，设计符合IP67标准。
爆炸性气氛：可在国家防火协会规范（NFPA 70）500节I级2分段D组规定的爆炸性气氛环境中安全操作，并且通过了美军标准MIL-STD-810G方法511.4程序I中规定的测试。
防撞击测试：通过了美军标准MIL-STD-810G方法516.5程序I中规定的测试，每轴6个循环，15 g，11 msec半弦波。
防振动测试：通过了美军标准MIL-STD-810G方法514.5程序I附录C图6中的测试，一般暴露：每轴1小时。
宽泛的操作温度范围
可选的带有支架的橡胶保护套
简便操作的设计理念
可只用右手或左手操作的简洁的键区
可直接访问大多数功能的简便易行的操作界面
使用内置microSD存储卡和可插拔microSD存储卡的存储方式
USB通讯端口
可存储475000个厚度读数或20000个波形的可选字母数字式数据记录器
默认或自定义单晶探头设置（可选）
密码保护方式的仪器锁定
彩色透反QVGA显示，带有室内和室外颜色设置，具有极佳的清晰度
可选功能
只需几次按键，即可完成从简单腐蚀测厚仪到多功能精确测厚仪的华丽变身。45MG测厚仪提供需密码激活的5个软件选项，从而跻身于工业领域中用途十分广泛的测厚仪行列。
回波到回波/穿透涂层：使用回波到回波选项，仪器屏幕上会显示金属的实际厚度，而涂层的厚度会被忽略。穿透涂层选项测量金属厚度与非金属涂层的厚度，这两个厚度都根据它们各自正确的材料声速值得到了调整。因此，在进行厚度测量时，无需去掉材料表面的漆层或涂层。单晶：这个选项可对很多材料，如：金属、塑料、复合材料、玻璃及陶瓷，进行非常精确的厚度测量。这个选项可与范围在2.25 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。单晶高穿透：这个选项可对较厚或衰减性较高的材料，如：玻璃纤维或铸造金属，进行厚度测量。可与范围在0.5 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。这个选项包含单晶选项。数据记录器：45MG测厚仪带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器，可方便地存储和传输厚度读数和波形数据。这个选项包含基于Windows的GageView接口程序。带有波形调整功能的实时A扫描：用户使用这个可选实时A扫描模式，可以在测厚仪的显示屏上直接查看超声波形（或称A扫描），核查厚度测量读数，对增益和空白设置进行手动调整，以在具有挑战性的应用中增强测量性能。这个极为有益的选项包含手动增益调整、扩展空白、首个回波空白、范围及延迟参数。
深圳市埃科瑞仪器设备有限公司是一家集研发、设计、制造为一体的仪器设备公司，致力于为广大客户实现产品价值和服务价值。公司拥有完整、科学的质量管理体系，依靠优良的销售团队和坚实的服务团队，获得了众多优良客户的信赖和支持，是实验仪器行业的领导先锋。公司成立至今已拥有众多国内外知名品牌厂商的支持，品牌包括：美国奥豪斯，德国赛多利斯，梅特勒托利多，日本岛津，美国康州，日本三丰，日本AND，美国博勒飞，梅特勒-托利多，日本得乐，日本理音，日本马康，美国GE,德国KK，日本奥林巴斯等等。
公司产品广泛应用于钢铁冶金、有色金属、石油化工、机械制造、能源电力、铁路运输、食品卫生、环境保护以及教学科研等各个领域。公司以“真挚的服务、低廉的价格”为宗旨，为国内外广大用户提供了周到的售前、售中、售后服务。赢得了国内外客户的一致好评，更为我们业务的快速发展奠定了一定的基础。
公司主营仪器设备：
电子分析天平、电子密度天平、粘度计 、水分计、硬度计、浓度计、PH计、水质检测仪、涂层测厚仪、电火花检漏仪、表面粗糙度测试仪、白度计，糖度计、熔体流动速率测试仪，熔融指数仪、含油率萃取器、量具量仪、光学仪器、实验仪器、物理仪器、分析仪器、化工仪器、无损检测等.
实验室分析仪器：电子分析天平，电子密度天平，台式粘度计、便携式粘度计，固体密度计/比重计，液体密度计/浓度计，硬度计，显微镜，分光光度计，PH计，浊度计，水分计，千分尺，卡尺，含油率萃取器，振实密度仪，松装密度计，霍尔流速计，粉末流动速率仪各种电子分析天平等等实验室分析仪器。
无损检测仪系列：涂层测厚仪，超声波测厚仪，超声波探伤仪，光泽仪，白度计，色差仪，电火花检漏仪，粗糙度测试仪，等无损检测仪器。
